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| 低溫試驗箱標準簡述 |
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| 時間：2013/4/28 7:50:15 |
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由中華人民共和國國家標準出版的電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法（標準號：GB/T2423.1）,此低溫試驗箱標準等效采用國際標準IEC 68-2-1《基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：寒冷》及其第一次補充文件IEC68-2-1A。
標準規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法，適用于非散熱和散熱的電工電子產(chǎn)品（包括元件、設備及其他產(chǎn)品）的低溫試驗。
低溫試驗箱可模擬各個不同階段的寒冷工況，廣泛適用于各行各業(yè)的產(chǎn)品出廠檢測及市場投放決擇，但本標準僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性，而不能用來評價試驗樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力，這時應當采用GB2423.22《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N：溫度變化試驗方法》即我們在業(yè)內常說的溫速快速變化試驗箱（溫度快速變化試驗箱根據(jù)試驗要求又分為線性和非線性），其它行業(yè)對此標準中制定的試驗檢測項目僅以參考為主，本標準規(guī)定的試驗方法通常用在條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品，試驗時，是將具有室溫的試驗樣品投入試驗，當試驗樣品實際上是和某種特定的安裝架一起使用時，則試驗時應應使用這些安裝架（我們業(yè)內稱為“樣品架”，現(xiàn)低溫試驗箱系列產(chǎn)品標準的樣品架都是竄孔隔板式的，根據(jù)用戶被測樣品的大小可以另外定制）。 |
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