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| 低溫試驗(yàn)箱入門簡(jiǎn)介 |
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| 時(shí)間：2012/11/28 8:22:45 |
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低溫試驗(yàn)箱考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在經(jīng)受溫度突變不致產(chǎn)生損傷作用的非散熱電工、電子產(chǎn)品低溫下貯存和使用的適應(yīng)性。低溫試驗(yàn)箱可以采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持溫度均勻。為了限制輻射影響，試驗(yàn)箱內(nèi)壁各部分溫度與規(guī)定試驗(yàn)溫度之差不應(yīng)超過(guò)8%(按開(kāi)爾文溫度計(jì)算)，且試驗(yàn)樣品不應(yīng)受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元件的直接輻射。
低溫試驗(yàn)箱采用數(shù)控機(jī)床加工成型，并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便。箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級(jí)不銹鋼鏡面板，外膽采用A3鋼板噴塑。利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃制造的大型觀測(cè)窗，可隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)試驗(yàn)狀況。設(shè)備配有直徑50mm測(cè)試孔，可供外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。
低溫試驗(yàn)箱的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：GB /T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則(idtI EC 60068-1:1988)；GB /T 2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(yǔ)(eqvI EC 60068-5-2:1990)；GB /T 2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則 |
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